Dziekan Wydziału Mechanicznego Politechniki Wrocławskiej prof. dr hab. inż. Edward Chlebus i Carl Zeiss Metrologia Przemysłowa zapraszają na seminarium.
Seminarium dedykujemy dla pracowników uczelni technicznych i praktyków, którzy mają do czynienia z tematyką metrologii przemysłowej i chcieliby zapoznać się z szerokim portfolio maszyn pomiarowych i oprogramowania Carl Zeiss.
Udział w spotkaniu jest bezpłatny. Ze względu na ograniczoną ilość miejsc prosimy o zgłoszenia uczestnictwa w seminarium pod adresem Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie w przeglądarce obsługi JavaScript.
Agenda szczegółowa:
10:00 - 11:00 - Przegląd współrzędnościowych maszyn pomiarowych ZEISS
11:00 - 11:15 - Dyskusja
11:15 - 12:15 - Przeglad oprogramowania ZEISS
12:15 - 12:30 - Dyskusja
12:30 - 13:30 - Prezentacja systemu CALYPSO Offline
13:30 - 14:45 - Prezentacja tomografu komputerowego METROTOM w laboratorium pomiarowym.
Seminarium odbędzie się 18 kwietnia 2012 roku Sala 2.41 - budynek B-4, ul. Łukasiewicza 5 we Wrocławiu.
Seminarium dedykujemy dla pracowników uczelni technicznych i praktyków, którzy mają do czynienia z tematyką metrologii przemysłowej i chcieliby zapoznać się z szerokim portfolio maszyn pomiarowych i oprogramowania Carl Zeiss.
Udział w spotkaniu jest bezpłatny. Ze względu na ograniczoną ilość miejsc prosimy o zgłoszenia uczestnictwa w seminarium pod adresem Ten adres pocztowy jest chroniony przed spamowaniem. Aby go zobaczyć, konieczne jest włączenie w przeglądarce obsługi JavaScript.
Agenda szczegółowa:
10:00 - 11:00 - Przegląd współrzędnościowych maszyn pomiarowych ZEISS
11:00 - 11:15 - Dyskusja
11:15 - 12:15 - Przeglad oprogramowania ZEISS
12:15 - 12:30 - Dyskusja
12:30 - 13:30 - Prezentacja systemu CALYPSO Offline
13:30 - 14:45 - Prezentacja tomografu komputerowego METROTOM w laboratorium pomiarowym.
Seminarium odbędzie się 18 kwietnia 2012 roku Sala 2.41 - budynek B-4, ul. Łukasiewicza 5 we Wrocławiu.
